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南京天测科技有限公司市场部
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供应覆层测厚仪|薄膜测厚仪TT240 |
涂层测厚仪概述
TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业必备的仪器。
符合以下标准:
GB/T 4957-1985 涡流方法
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
涂层测厚仪技术参数
测头类型:N
测量原理:电涡流
测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式:分体式导线连接
示值误差:
一点校准(um):±[3%H+1.5]
两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
测量条件:
*小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
基体*小面积的直径(mm):ф5
*小临界厚度(mm):0.3
温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
统计功能:平均值、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
上下限设置:无
存储能力:350个测量值
打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑
关机方式:手动和自动
电源:二节AA型碱性电池
外形尺寸:152×47×35mm
重量:370g |
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